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JEM-Z200MF無磁場透射電子顯微鏡 JEM-Z200MF是一款無磁場物鏡的電子顯微鏡，可以在不向樣品施加強磁場的情況下實現(xiàn)高分辨率觀察。結(jié)合高次像差校正器，可以實現(xiàn)原子級分辨率成像。

XD-1000光譜分析儀是一款全元素上照式熒光光譜儀，可測量納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件 的膜厚，可選配自動平臺實現(xiàn) XYZ 軸編程位移，實現(xiàn)無人值守多點測量，測量軟件置入* 的 EFP 算法及解譜技術(shù)，解決了諸多業(yè)界難題。

XAU熒光光譜分析儀XAU 是一款一機多用型光譜儀，應用了*的 EFP 算法和微光聚集技術(shù)，既保留了專用 測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足成分分析。 被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

愛丁堡RM5拉曼顯微鏡RM5是一款緊湊的全自動拉曼顯微鏡，用于分析和研究目的。RM5真正的共焦設計在市場上并提供了光譜分辨率，空間分辨率和靈敏度。

愛丁堡RMS1000拉曼顯微鏡真正的共聚焦–多位置針孔，可實現(xiàn)高空間分辨率，熒光和背景抑制以及應用優(yōu)化 五位置光柵轉(zhuǎn)塔–小于0.1 cm-1的光譜分辨率和5 cm-1 – 30,000 cm-1的覆蓋范圍 兩種光譜儀選件–標準緊湊型和長焦距光譜儀可提供最終分辨率，靈敏度和雜散光抑制

奧林巴斯OLS5100-SAF激光共焦顯微鏡適用于故障分析和材料工程研究的OLS5100激光顯微鏡將測量精度和光學性能與智能工具相結(jié)合，讓顯微鏡更加方便使用。通過快速高效精確測量亞微米級形狀和表面粗糙度的可靠數(shù)據(jù)簡化您的工作流程

自動光譜橢偏儀SENDUROSENDURO® 可測量透明和反射基片上單層薄膜和層疊膜的折射率和厚度。SENDURO® 自動掃描則實現(xiàn)了較高的樣品速度，化安裝工作量和低的維護成本。該光譜橢偏儀的自動掃描具有預定義或用戶定義的模式、允許廣泛的統(tǒng)計特性和數(shù)據(jù)圖形顯示。

安科瑞泰SENDIRA紅外光譜橢偏儀橢偏振動光譜 利用紅外光譜中分子振動模的吸收帶，可以分析薄膜的組成。此外，載流子濃度可以用傅立葉紅外光譜儀FTIR測量。