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KOSAKA臺(tái)階儀EC600薄膜測(cè)厚儀臺(tái)階儀 適用于生產(chǎn)線上的輕巧型，小型工作臺(tái)回轉(zhuǎn)式的真圓度測(cè)定機(jī) ● 桌上型機(jī)型，具備大型液晶畫(huà)面及操縱解析裝置進(jìn)行測(cè)量及解析。另可搭配打印機(jī)實(shí)時(shí)輸出測(cè)量結(jié)果，便于生產(chǎn)線管控。 ● 可另搭配電腦及解析軟件。
KOSAKA臺(tái)階儀ET10000薄膜測(cè)厚儀臺(tái)階儀 對(duì)應(yīng)大面積樣品段差測(cè)定的全自動(dòng)機(jī)型。 ● 機(jī)臺(tái)尺寸可根據(jù)樣品/工件尺寸訂制。 ● 針對(duì)生產(chǎn)線全自動(dòng)大型工件開(kāi)發(fā)，可搭配機(jī)械手臂自動(dòng)進(jìn)退樣品。
KOSAKA臺(tái)階儀ET4000薄膜測(cè)厚儀臺(tái)階儀可以應(yīng)用在半導(dǎo)體，光伏/太陽(yáng)能，光電子，化合物半導(dǎo)體，OLED，生物醫(yī)藥，PCB封裝等領(lǐng)域的薄膜厚度，臺(tái)階儀測(cè)量薄膜厚度,臺(tái)階高度，粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），劃痕深度，磨損深度，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）等定量測(cè)量方面。其高精度，高重復(fù)性，自動(dòng)探索樣品表面
KOSAKA臺(tái)階儀ET200A薄膜測(cè)厚儀適用于二次元表面納米等級(jí)段差臺(tái)階測(cè)定、粗糙度測(cè)定。 ET200A臺(tái)階儀擁有高精度．高分解能，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，安定的測(cè)量過(guò)程及微小的測(cè)定力可對(duì)應(yīng)軟質(zhì)樣品表面。 該型號(hào)臺(tái)階儀采用直動(dòng)式檢出器，重現(xiàn)性高。
APx515音頻分析儀是用在生產(chǎn)線測(cè)試的高性能音頻分析儀。 它的測(cè)試速 度、性能、自動(dòng)化以及簡(jiǎn)易性都是同類(lèi)產(chǎn)品中較好的儀器。
APx525B音頻分析儀擁有高速、高性能的操作系統(tǒng)以及獲獎(jiǎng)的界面設(shè)計(jì)，并且支持多種輸入輸出模塊選件。創(chuàng)新的“一鍵”測(cè)試、無(wú)碼自動(dòng)測(cè)試以及對(duì)應(yīng)多種接口的報(bào)告輸出功能，大大提高測(cè)試效率。
APx585B音頻分析儀一貫承諾的的快速精準(zhǔn)的性能與獲獎(jiǎng)用戶(hù)界面結(jié)合在一起, APx 的友好的用戶(hù)創(chuàng)新包括： 各種接口選件，一鍵式測(cè)試功能，免寫(xiě)代碼自動(dòng)化功能， 精致的報(bào)告生成引擎和一個(gè)工程文件里可有多個(gè)信號(hào)路徑。
APx555B音頻分析儀是具有三十年經(jīng)驗(yàn)的測(cè)試設(shè)備，APx555是一款雙通道音頻分析儀，無(wú)需妥協(xié)。研發(fā)工程師和生產(chǎn)技術(shù)人員需要良好的性能，廣泛的數(shù)字I / O選項(xiàng)和快速，直觀的軟件，APx555是音頻分析儀的新標(biāo)準(zhǔn)。
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