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| 品牌 | HIOKI/日本日置 | 測量頻率 | 1 MHz?3 GHz (設置分辨率100 kHz) |
|---|---|---|---|
| 輸出阻抗 | 50 Ω (10 MHz時) | 功能 | 接觸檢查、比較器、BIN判定（分類功能）、面板讀取/保存、存儲功能、等效電路分析、相關補償 |
| 接口 | EXT I/O (處理器), USB通訊, U盤, LAN RS-232C (選件), GP-IB | 電源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
HIOKI日置IM7587電池阻抗分析儀內阻測試儀
可信賴的機型3GHz
|Z|, L, C, R等 測量頻率：1MHz～3GHz 測量時間：0.5ms 同時進行掃頻測量和LCR測量
HIOKI日置IM7587電池阻抗分析儀內阻測試儀概要
● 測試電壓測量頻率：1MHz~3GHz
● 測量時間：最快0.5ms（模擬測量時間）
● 測量值偏差：0.07%（用3GHz測量線圈1nH時）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 測量方式：RF I-V法
● 緊湊主機僅機架一半大小，測試頭尺寸僅手掌大小
● 豐富的接觸檢查（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
● 分析模式下可以邊掃描測量頻率、測量信號電平邊進行測量
基本參數（精度保證時間1年，調整后精度保證時間1年）
| 測量模式 | LCR (LCR測量),分析儀 (掃頻測量), 連續測量 |
|---|---|
| 測量參數 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
| 精度保證范圍 | 100 mΩ~5 kΩ |
| 顯示范圍 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~180.000°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
| 基本精度 | Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38° |
| 測量頻率 | 1 MHz?3 GHz (設置分辨率100 kHz) |
| 測量信號電平 | 功率 (dBm)模式： -40.0 dBm~ +1.0 dBm 電壓(V) 模式: 4 mV~502 mVrms 電流(I) 模式: 0.09 mA~10.04 mArms |
| 輸出阻抗 | 50 Ω (10 MHz時) |
| 顯示 | 彩色TFT 8.4英寸, 觸摸屏 |
| 測量時間 | 最快0.5ms（FAST、模擬測量時間、代表值） |
| 功能 | 接觸檢查、比較器、BIN判定（分類功能）、面板讀取/保存、存儲功能、等效電路分析、相關補償 |
| 接口 | EXT I/O (處理器), USB通訊, U盤, LAN RS-232C (選件), GP-IB (選件) |
| 電源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
| 體積和重量 | 主機: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg 測試頭: 90W × 64H × 24D mm, 300 g |
| 附件 | 測試頭×1, 連接線×1, 使用說明書×1, CD-R (通訊說明書) ×1, 電源線×1 |
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